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  • XTDIC-CONST三维全场应变测量分析系统

    DIC结合数字图像相关技术与双目立体视觉技术,具有便携,速度快,精度高,易操作等特点;与双目体式显微镜技术结合,实现微小物体变形过程中物体表面的三维坐标,位移场及应变场的测量。

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    产品价格:面议
    厂商性质:代理商
    更新日期:2019-05-28
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