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ITECH新一代电源老化测试系统方案

发布时间:2020-03-03      点击次数:505

绝大部分电源类产品在出厂前均会进行时间不等的老化测试,老化测试是一个长时间的测试过程,通常情况下需要同时对多个产品进行测试。针对DC输入类的产品,从经济角度出发可以利用开关电源作为输入源对被测产品进行老化测试,但开关电源不具备测量功能,且输出电压基本为固定值,不具备调节能力,这种方案一是造成通用性较差无法满足不同输入条件的产品测试,此外开关电源自身不具备测量功能,也无法实时记录老化过程中各项参数,如果采用外置采样回路的方式来采集老化通道的数据,除了会增加额外的成本之外,在监控端也需要单独监控。

以往的测试中利用电源去做老化测试还会面对体积大,通讯延时高等问题,这是因为电源在做通讯集联时,控制端的上位机时逐个与每一台电源做通讯交互,无论时何种通讯方式,逐个交互均会产生大量的延时时间,例如每一台电源每进行一次交互时间的为100ms,50台电源,在不考虑指令延时的情况下延时时间即为49*0.1S,也就是单台电源的交互周期会被拉长到4.9S,这样不仅造成数据无法及时上报,同样控制端指令的下发也会有滞后。

IT9000-M3100平台老化测试系统,是专门针对产线老化测试效率低下,数据记录繁琐而开发的一套综合型测试系统,是ITECH电源老化系统的升级方案。整套系统采用模块化设计,提供丰富的选配参数(20V/30V/80V/150V/300V/600V六种电压等级,每种电压等级包含400W850W两种功率规格),软件大支援256通道。基于IT-M3100硬件平台的老化方案,大的亮点是超高的功率密度,这正是自动化测试系统所需要的。在37U机柜中可以集成64路老化供电源,有效提高单个老化测试工位的产能,较之传统的方案产能提升了近2倍。特别适用于产线批量的老化的行业,如激光器老化系统,芯片测试,车灯或其他汽车电子部件的老化测试。

 对于生产测试,待测物的功率也会随着生产项目的不同而变化。为进一步提升系统的运行的灵活性,IT-M3100平台老化系统,支持多4台设备的主从并机控制,将单路的老化功率扩展为原有的4倍。

IT9100老化测试系统软件,采用多线程设计原理,支援上百通道DUT同时在线老化。软件包含:硬件配置,工步编辑,通道运行,数据查询及用户管理五大主要功能模块,提供中英文两种界面。基于Mysql的数据库平台,使得数据采集和分析功能更为强大和稳定,报表可以导出为pdfexcel格式,便于后期分析。   

为更好的管理不同人员对于系统的操作,IT9100软件提供用户权限设定功能,给品质,研发及测试人员配置不同的操作权限,防止系统程序被任意修改或人为非正常停止,进一步保证系统的安全可靠性。软件也提供多种保护条件设定,当任意通道检测到异常,会立即停止,不影响其他通道的正常运行。

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