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NES8100系列高温反偏老化测试系统

简要描述:NES8100系列高温反偏老化测试系统是一款适用于各种封装形式(包括SMD表面贴装)微波器件的高温反偏老化测试系统,系统满足双电源
型GaN类、微波MOS管等半导体分立器件的高温反偏/栅偏试验(HTRB/HTGB)和高温漏电流测试(HTIR)。NES8100 系列高温反偏老化测试系统支持电压200V单偏置或双偏置的高温反偏试验(HTRB)和老炼筛选。

  • 产品型号:NES8100-16
  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2022-12-09
  • 访  问  量:200

详细介绍

NES8100系列高温反偏老化测试系统:

产品简介:

NES8100系列高温反偏老化测试系统是一款适用于各种封装形式(包括SMD表面贴装)微波器件的高温反偏老化测试系统,系统满足双电源 型GaN类、微波MOS管等半导体分立器件的高温反偏/栅偏试验(HTRB/HTGB)和高温漏电流测试(HTIR)。NES8100系列采用高 品质的GWS的PH-201型号高温箱,最高长期稳定工作温度为175℃;具备测试通道多的特点,单系统16CH支持单管芯器件640 工位测试;支持电压200V单偏置或双偏置的高温反偏试验(HTRB)和老炼筛选。NES8100系列为半导体器件高温反偏测试定制开 发专用软件,集成自动调节加电模式、在线调节加电模式、加载时序控制、自动保护器件、数据实时监控等多种功能。

主要特点:

支持高温反偏/栅偏试验(HTRB/HTGB)和高温漏电流测试(HTIR)

GWS单高温箱结构,长期稳定工作温度为175℃

双一级电源供电,Vd为200V;Vg为±15.0V

NGI品牌高精度测试电源,高精度、低纹波

Vg电源单机四通道,高集成度

Vg采用UPS供电的二级电源设计,软硬件时序控制

单系统16CH支持单管芯器件640工位测试

自动调节、在线调试多种加电模式,加载时序控制

数据实时监控、全程记录,测试数据快速溯源

单工位Vd均加继电器自动保护,器件测试更安全
规格参数表:

型号NES8100-16
适用标准/条款MIL-STD-750D、MIL-M-19500、GJB128A、AEC-101
尺寸1450mm(宽)×1430mm(深)×1900mm(高)
重量1000kg
供电AC 220V±10%,50Hz
功率≤12kW

高温试验箱(PH-201)
试验腔尺寸600*600*600(mm)
风道设计水平横向循环风道设计
长期最高试验温度150℃(老化板配件最高耐温150℃)
温度均匀性150℃±3℃(空载),试验温度波动度:±1℃
温度显示及控制精度 1℃

测试电源(NGI)
Vd电源数量4台
Vd电压范围0~240V
Vd电流范围0~30A
Vd功率范围0~1200W
Vg电源数量2台(单机四通道)
Vg电压范围0~60V
Vg电流范围0~15A
Vg功率范围0~360W

测试容量
独立试验区数量4个区(一组测试电源对应一个试验区)
测试通道数16CH
单板工位数/总容量40工位/640工位

驱动检测板
数量16块
Vd电压检测0V~200V;分辨率:0.1V;精度: 1%+0.1V
Vg电压检测 -15.00V~15.00V;分辨率:0.01V;精度: 1%+0.01V
Id漏电流检测0.01mA~50mA;分辨率:0.01mA;精度:2%+30μA
Ig漏电流检测0.01mA~50mA;分辨率:0.01mA;精度:2%+30μA

老化板
基板材质标配高Tg基板(可定制)
耐温范围耐温150℃(可定制)
老化板尺寸290mm*600mm(可定制)


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